Evento promovido pela Residência CIn-UFPE/Samsung/SiDi acontece no dia 19 de abril, às 11h, em formato remoto
O uso da tecnologia como instrumento de previsão de alterações extremas no clima será o tema debatido no seminário do programa de Residência em Engenharia e Ciência de Dados do Centro de Informática (CIn) da UFPE, realizado em parceria com a Samsung e o SiDi. A palestra “Previsão e Geração de Cenários Climáticos Extremos usando Aprendizado de Máquina” vai ser ministrada pela professora e pesquisadora Bianca Zadrozny e acontece no dia 19 de abril, às 11h, em formato remoto, com transmissão ao vivo através do canal do YouTube do CIn-UFPE.
As mudanças climáticas estão aumentando a frequência e a intensidade de eventos climáticos extremos que geram impactos para a sociedade. Nesse contexto, torna-se cada vez mais importante melhorar a capacidade de previsão desses eventos e a geração de cenários que possam ser usados para avaliação de risco e para tomada de decisão visando aumentar a resiliência a esse tipo de evento. Na apresentação, Bianca mostrará como técnicas avançadas de aprendizado de máquina espaço-temporal podem ser aplicadas em dados de clima para produzir modelos preditivos e generativos de eventos climáticos extremos.
Sobre a palestrante: Bianca Zadrozny é bacharel em Engenharia de Computação (1998) pela PUC-Rio e doutora em Ciência da Computação (com ênfase em Inteligência Artificial) pela Universidade da Califórnia, San Diego (2003). Bianca já atuou como pesquisadora no grupo Data Analytics Research do IBM T.J. Watson Research Center, NY (2003-2006) e como Professora Adjunta no Instituto de Computação da Universidade Federal Fluminense (2006-2011).
Desde 2012, lidera um grupo de pesquisas em Aprendizado de Máquina para dados geo-espaciais na IBM Research Brasil, tendo atuado em projetos nas áreas de Óleo & Gás, Mineração, Agricultura Digital e, mais recentemente, Clima. Publicou mais de 50 artigos científicos na área de aprendizado de máquina e aplicações e tem 10 patentes concedidas pelo escritório de patentes dos EUA.
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